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Journée Thématique – Contrôle qualité des Surfaces et Interfaces
Journée Thématique – Contrôle qualité des Surfaces et Interfaces

Date:   14 Octobre 2015

Organisateur: MINALOGIC

Partenaires:  VIAMECA, CETIM, IOGS, SYMME, IREIS, MANUTECH SISE

Thème:  recherche-et-industrie

Lieu / Adresse:  7 rue de la Presse, SAINT-ETIENNE

Site web:  http://www.minalogic.com/Actualites/1582/journee-thematique-photonique-controle-qualite/18-l-agenda.htm#.VbjrC_ntmkp

Dans le cadre de ses actions d’animation de la filière photonique de la région Rhône-Alpes, le pôle ORA organise 6 journées thématiques par an. Ces journées thématiques rassemblent de 60 à 80 participants, constitués à parts égales entre acteurs académiques du domaine de la recherche et acteurs industriels (fournisseurs, intégrateurs et utilisateurs de technologies). Ce sont de véritables opportunités de développement économique qui s’articulent autour d’une dizaine de conférences offrant un état des lieux sur le domaine en présentant des synthèses et en ouvrant des perspectives. L’objectif étant de mettre en valeur des technologies photoniques pour des applications et marchés ciblés.
Les sujets abordés lors de cette journée seront les suivants : Caractérisation sensorielle, rugosité, topographie, BRDF, aspect, microscopie confocale, microscopie interférométrique, ellipsométrie, mesure, thermographie, interface, profilométrie, contrôle non-destructif, surface fonctionnalisée, état de surface, spectrométrie, énergie de surface, OCT, métrologie des déformées, Rendu visuel

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Email de contact:  david.vitale@minalogic.com

Téléphone:  06 35 03 98 52

Evènement mis en ligne par:  VITALE